High-level design error diagnosis using backtrace on decision diagrams
autor
Raik, Jaan
Repinski, Urmas
Ubar, Raimund-Johannes
Jenihhin, Maksim
Tšepurov, Anton
vastutusandmed
Jaan Raik, Urmas Repinski, Raimund Ubar, Maksim Jenihhin, Anton Chepurov
allikas
28th Norchip Conference : Tampere, Finland, 15-16 November 2010 : conference program and papers
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2010
leheküljed
[4] p. : ill
konverentsi nimetus, aeg
28th Norchip Conference, 15-16 November, 2010
konverentsi toimumispaik
Tampere, Finland
leitav
http://dx.doi.org/10.1109/NORCHIP.2010.5669486
märksõna
programmeerimiskeeled
rikked
diagnostika (tehnika)
otsustusdiagrammid
ISBN
978-1-4244-8973-2
märkused
Bibliogr.: 12 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutitehnika instituut
keel
inglise