Krivenko, A., Ubar, R., Raik, J., Kruus, M.

täiskirje prindi

New technique for hierarchical identification of untestable faults in sequential circuits

autor

Krivenko, Anna

Ubar, Raimund-Johannes

Raik, Jaan

Kruus, Margus

vastutusandmed

Anna Krivenko, Raimund Ubar, Jaan Raik, Margus Kruus

allikas

Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK kolmanda aastakonverentsi artiklite kogumik : 25.-26. aprill 2008, Voore külalistemaja

ilmumiskoht

[Tallinn

kirjastus/väljaandja

TTÜ kirjastus]

ilmumisaasta

2008

leheküljed

lk. 155-158 : ill

ISBN

978-9985-59-782-8

märkused

Bibliogr.: 8 ref

keel

inglise

Märksõnad ja võtmesõnad

märksõna

digitaalintegraallülitused

rikked

identifitseerimine

Krivenko, A., Ubar, R., Raik, J., Kruus, M. New technique for hierarchical identification of untestable faults in sequential circuits // Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK kolmanda aastakonverentsi artiklite kogumik : 25.-26. aprill 2008, Voore külalistemaja. [Tallinn : TTÜ kirjastus], 2008. lk. 155-158 : ill.