Combined pseudo-exhaustive and deterministic testing of array multipliers
autor
Oyeniran, Adeboye Stephen
Azad, Siavoosh Payandeh
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
Adeboye Stephen Oyeniran, Siavoosh Payandeh Azad, Raimund Ubar
allikas
2018 IEEE International Conference on Automation, Quality and Testing, Robotics (AQTR) : THETA 21st edition, 24th-26th May, Cluj-Napoca, Romania : proceedings
ilmumiskoht
Romania
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2018
leheküljed
6 p. : ill
konverentsi nimetus, aeg
2018 IEEE International Conference on Automation, Quality and Testing, Robotics (AQTR), 24-26 May 2018
konverentsi toimumispaik
Cluj-Napoca, Romania
leitav
https://doi.org/10.1109/AQTR.2018.8402708
märksõna
mikroprotsessorid
testimine
meetodid
arvutiprogrammid
rikked
võtmesõna
multipliers
pseudo-exhaustive test
deterministic test sequences
data-controlled segmentation
extended fault class
ISBN
978-1-5386-2204-9
märkused
Bibliogr.: 26 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise
Uurimisrühm
Töökindla arvutusriistvara keskus (TARK)
Usaldusväärsete arvutisüsteemide keskus