High-Level Implementation-Independent Functional Software-Based Self-Test for RISC Processors
autor
Oyeniran, Adeboye Stephen
Ubar, Raimund-Johannes
Jenihhin, Maksim
Raik, Jaan
vastutusandmed
Adeboye Stephen Oyeniran, Raimund Ubar, Maksim Jenihhin, Jaan Raik
allikas
Journal of electronic testing : theory and applications
ajakirja aastakäik number kuu
vol. 36
ilmumisaasta
2020
leheküljed
p. 87-103
leitav
https://doi.org/10.1007/s10836-020-05856-7
märksõna
testimine
mudelprojekteerimine
kompuutermodelleerimine
vead
simulatsioon
võtmesõna
processor testing
high-level control fault model
functional test generation
fault simulation
high-level fault coverage
low-level fault redundancy
ISSN
0923-8174
märkused
Bibliogr.: 43 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise
Uurimisrühm
Töökindla arvutusriistvara keskus (TARK)
Usaldusväärsete arvutisüsteemide keskus