Измерение СВЧ фотопроводимости в материалах с высокой проводимостью
autor
Vallaste, Heikki
Mellikov, Enn
Tuvike, Tiit
Palmre, Õie
allikas
Электрофизические свойства полупроводниковых и диэлектрических материалов
ilmumiskoht
Таллин
kirjastus/väljaandja
Таллинский политехнический институт
ilmumisaasta
1986
leheküljed
с. 57-63
seeria-sari
Tallinna Polütehnilise Instituudi toimetised = Труды Таллинского политехнического института ; 620
Полупроводниковые материалы ; 7
seeria variantpealkiri
TPI Toimetised ; 620
Труды ТПИ ; 620
märksõna
mikrolained
fotojuhtivus
optoelektroonika
TTÜ märksõna
Tallinna Tehnikaülikooli toimetised
märkused
Библиогр. : 7 назв
keel
vene