Измерение СВЧ фотопроводимости в материалах с высокой проводимостью
autor
Vallaste, Heikki
Mellikov, Enn
Tuvike, Tiit
Palmre, Õie
vastutusandmed
Х.Э. Валласте, Э.Я. Мелликов, Т.А. Тувике, Ы.В. Палмре
allikas
Электрофизические свойства полупроводниковых и диэлектрических материалов
ilmumiskoht
Таллин
kirjastus/väljaandja
Таллинский политехнический институт
ilmumisaasta
1986
leheküljed
с. 57-63 : ил
seeria-sari
Tallinna Polütehnilise Instituudi toimetised = Труды Таллинского политехнического института ; 620
Полупроводниковые материалы ; 7
seeria variantpealkiri
TPI Toimetised ; 620
Труды ТПИ ; 620
leitav
https://www.ester.ee/record=b1296001*est
https://digikogu.taltech.ee/et/Item/65e24755-71eb-4a99-b9fe-e1308121ed89
märksõna
mikrolained
fotojuhtivus
optoelektroonika
TTÜ märksõna
Tallinna Tehnikaülikooli toimetised
ISSN
0136-3549
0320-3395
märkused
Библиогр. : 7 назв
Abstract: Microwave conductivity measurements in highly conductive materials
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
3.2
TTÜ struktuuriüksus
füüsikalise keemia kateeder
keel
vene