GA-based test generation for sequential circuits
autor
Brik, Marina
Raik, Jaan
Ubar, Raimund-Johannes
Ivask, Eero
vastutusandmed
M. Brik, J. Raik, R. Ubar, E. Ivask
allikas
Proceedings of East–West Design & Test Workshop (EWDTW’04) : Yalta, Alushta, Crimea, Ukraine, September 23-26, 2004
ilmumiskoht
[Kharkov]
ilmumisaasta
2004
leheküljed
p. 30-34
konverentsi nimetus, aeg
2nd East-West Design & Test Workshop, 23-26 September, 2004
konverentsi toimumispaik
Yalta, Alushta, Crimea, Ukraine
ISBN
966-659-088-3
TTÜ struktuuriüksus
arvutitehnika instituut
keel
inglise