Two-dimensional nonisothermal analysis of the current crowding effect at nonuniform SiC Schottky contacts using device simulator DYNAMIT-2DT

vastutusandmed
Raido Kurel and Andres Udal
ilmumiskoht
Tallinn
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
p. 51-54 : ill
ISBN
9985-59-292-1
märkused
Bibliogr.: 13 ref
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise