Two-dimensional nonisothermal analysis of the current crowding effect at nonuniform SiC Schottky contacts using device simulator DYNAMIT-2DT
autor
Kurel, Raido
Udal, Andres
vastutusandmed
Raido Kurel and Andres Udal
allikas
BEC 2002 : proceedings of the 8th Biennial Baltic Electronics Conference : October 6-9, 2002, Tallinn, Estonia
ilmumiskoht
Tallinn
kirjastus/väljaandja
[Tallinn Technical University]
ilmumisaasta
2002
leheküljed
p. 51-54 : ill
märksõna
ränikarbiid
Schottky barjäär
elektrikontaktid
pooljuhid
ISBN
9985-59-292-1
märkused
Bibliogr.: 13 ref
TTÜ struktuuriüksus
elektroonikainstituut
keel
inglise