Measurement of transistor low frequency noise source parameters
autor
Zeltinš, M.
Slaidinš, I.
vastutusandmed
M.Zeltinš, I.Slaidinš
allikas
BEC'96 : the 5th Biennial Baltic Electronics Conference, October 7-11, 1996, Tallinn, Estonia : proceedings
ilmumiskoht
[Tallinn]
ilmumisaasta
1996
leheküljed
p. 475-478: ill
märksõna
transistorid
madalsagedusmüra
parameetrid
mõõtmine
ISBN
9985-59-026-0
märkused
Bibl. 4 ref
keel
inglise