An approach for verification assertions reuse 2 in RTL test pattern generation
autor
Jenihhin, Maksim
Raik, Jaan
Ubar, Raimund-Johannes
Viilukas, Taavi
Fujiwara, Hideo
vastutusandmed
Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Raimund Ubar, Taavi Viilukas, Hideo Fujiwara
allikas
Journal of Shanghai Normal University : Natural Sciences
ajakirja aastakäik number kuu
Vol. 39, No. 5
ilmumisaasta
2010
leheküljed
p. 441-447 : ill
konverentsi nimetus, aeg
IEEE Eleventh Workshop on RTL and High Level Testing, 5-6 December 2010
konverentsi toimumispaik
Shangai
leitav
https://www.researchgate.net/publication/240613999_An_Approach_for_Verification_Assertions_Reuse_in_RTL_Test_Pattern_Generation
märksõna
komplekssüsteemid
töökindlus
testimine
ISSN
1000-5137
märkused
Bibliogr.: 25 ref
Kokkuvõte hiina keeles
keel
inglise