Test synthesis from register-transfer level descriptions
autor
Raik, Jaan
Paomets, Priidu
vastutusandmed
Jaan Raik, Priidu Paomets
allikas
BEC'96 : the 5th Biennial Baltic Electronics Conference, October 7-11, 1996, Tallinn, Estonia : proceedings
ilmumiskoht
[Tallinn]
ilmumisaasta
1996
leheküljed
p. 311-314: ill
märksõna
testimine
süntees
disain
VLSI-ahelad
ISBN
9985-59-026-0
märkused
Bibl. 10 ref
keel
inglise