Teaching digital test with BIST analyzer
autor
Jutman, Artur
Tšertov, Anton
Tšepurov, Anton
Aleksejev, Igor
Ubar, Raimund-Johannes
Wuttke, Heinz-Dietrich
vastutusandmed
A. Jutman, A. Tsertov, A. Tsepurov, I. Aleksejev, R. Ubar, H.-D. Wuttke
allikas
19th EAEEIE Annual Conference : June 29-July 2, 2008, Tallinn, Estonia : formal proceedings
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2008
leheküljed
p. 123-128 : ill
konverentsi nimetus, aeg
19th EAEEIE Annual Conference, June 29-July 2, 2008
konverentsi toimumispaik
Tallinn, Estonia
leitav
http://dx.doi.org/10.1109/EAEEIE.2008.4610171
märksõna
integraallülitused
testimine
ISBN
978-1-4244-2008-7
märkused
Bibliogr.: 8 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutitehnika instituut
keel
inglise