Fault diagnosis in integrated circuits with BIST
autor
Ubar, Raimund-Johannes
Kostin, Sergei
Raik, Jaan
Evartson, Teet
Lensen, Harri
vastutusandmed
Raimund Ubar, Sergei Kostin, Jaan Raik, Teet Evartson, Harri Lensen
allikas
10th Euromicro Conference on Digital System Design Architectures, Methods and Tools, DSD 2007 : 29-31 August 2007, Lübeck, Germany : proceedings
ilmumiskoht
Los Alamitos
kirjastus/väljaandja
IEEE Computer Society
ilmumisaasta
2007
leheküljed
p. 604-610 : ill
konverentsi nimetus, aeg
10th Euromicro Conference on Digital System Design Architectures, Methods and Tools, 29-31 August, 2007
konverentsi toimumispaik
Lübeck, Germany
leitav
http://dx.doi.org/10.1109/DSD.2007.4341530
märksõna
integraallülitused
rikked
diagnostika (tehnika)
ISBN
978-0-7695-2978-3
märkused
Bibliogr.: 16 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutitehnika instituut
keel
inglise