KPI Optimization for Product Development Process
autor                    
                    
                
vastutusandmed                    
                    
Durkacova, M[ichaela], Lavin, J[aak] & Karjust, K[risto]
                            
                    
ilmumiskoht                    
                    
Vienna
                            
                    
kirjastus/väljaandja                    
                    
                
ilmumisaasta                    
                    
                
leheküljed                    
                    
p. 1079-1084 : ill [CD-ROM]
                            
                    
seeria-sari                    
                    
                
konverentsi nimetus, aeg                    
                    
23rd DAAAM International Symposium "Intelligent Manufacturing & Automation", October 24-27, 2012
                            
                    
konverentsi toimumispaik                    
                    
Zadar, Croatia
                            
                    
võtmesõna                    
                    
                
ISSN                    
                    
2304-1382
                            
                    
ISBN                    
                    
978-3-901509-91-9
                            
                    
märkused                    
                    
Bibliogr.: 21 ref
                            
                    
TTÜ struktuuriüksus                    
                    
                
keel                    
                    
inglise
                            
                    
                            Durkacova, M., Lavin, J., Karjust, K. KPI Optimization for Product Development Process // Annals of DAAAM for 2012 & Proceedings of the 23rd International DAAAM Symposium : Intelligent Manufacturing & Automation. Vienna : DAAAM International, 2012. p. 1079-1084 : ill [CD-ROM]. (Annals of DAAAM for 2012 & Proceedings of the 23rd International DAAAM Symposium, Vol. 23).