Измерение параметров аналоговых микросборок применением компенсационного метода
autor
Laansoo, Ants
Männama, Vello
Pikkov, Otto
vastutusandmed
А. Лаансоо, В. Мяннама, О. Пикков
allikas
Машинное проектирование электронных устройств и систем
ilmumiskoht
Таллин
kirjastus/väljaandja
Таллинский политехнический институт
ilmumisaasta
1988
leheküljed
с. 105-112 : ил
seeria-sari
Tallinna Polütehnilise Instituudi toimetised = Труды Таллинского политехнического института = Transactions of Tallinn Technical University ; 674
Электротехника и автоматика ; 35
seeria variantpealkiri
TPI Toimetised ; 674
Труды ТПИ ; 674
leitav
https://www.ester.ee/record=b1256708*est
https://digikogu.taltech.ee/et/Item/2e6337b1-2222-4e66-98fb-89178f835390
märksõna
seadmed
mikroskeemid
testimine
TTÜ märksõna
Tallinna Tehnikaülikooli toimetised
ISSN
0136-3549
3134-3823
märkused
Библиогр. : 4 назв
Abstract: Measuring parameters of the analog microcircuits using the compensational method
Kokkuvõte: Analoog-mikroskeemide parameetrite mõõtmine kompensatsioonmeetodiga
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
3.2
TTÜ struktuuriüksus
elektroonika kateeder
keel
vene