How to generate high quality tests for digital systems
autor
Ubar, Raimund-Johannes
Aarna, Margit
Kruus, Helena
Raik, Jaan
vastutusandmed
R. Ubar, M. Aarna, H. Kruus, J. Raik
allikas
2004 International Semiconductor Conference : 27th edition, October 4-6, 2004, Sinaia, Romania : CAS 2004 proceedings. Volume 2
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2004
leheküljed
p. 459-462 : ill
leitav
http://dx.doi.org/10.1109/SMICND.2004.1403048
märksõna
digitaaltehnika
defektid
otsustusdiagrammid
testimine
võtmesõna
digital systems
physical defects
decision diagrams
functional fault model
hierarchical testing
ISBN
0-7803-8499-7
märkused
Bibliogr.: 11 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutitehnika instituut
keel
inglise