Electron microscopy study of contact layers in n-type 4H-SiC after diffusion welding
autor
Korolkov, Oleg
Sleptšuk, Natalja
Sitnikova, A.
Rang, Toomas
vastutusandmed
O.Korolkov, N.Sleptsuk, A.Sitnikova, and T.Rang
allikas
BEC 2008 : 2008 International Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 11th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology : October 6-8, 2008, Tallinn, Estonia
ilmumiskoht
[Tallinn]
kirjastus/väljaandja
Tallinn University of Technology
ilmumisaasta
2008
leheküljed
p. 91-94 : ill
märksõna
elektronmikroskoopia
ränikarbiid
piirpinnad
keevitus
difusioon (füüsika)
ISBN
978-1-4244-2059-9
märkused
Bibliogr.: 7 ref
keel
inglise