Fault oriented test pattern generation for sequential circuits using Genetic Algorithms

vastutusandmed
Eero Ivask, Jaan Raik, Raimund Ubar
ilmumiskoht
[Tallinn]
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
p. 129-132 : ill
ISBN
9985-59-179-8
märkused
Bibliogr.: 13 ref