prindi

Double deep Q-Learning approach for tuning microwave cavity filters using locally linear embedding technique

autor
Sekhri, Even
Kapoor, Rajiv
Tamre, Mart
vastutusandmed
Even Sekhri, Rajiv Kapoor, Mart Tamre
allikas
2020 International Conference Mechatronic Systems and Materials (MSM)
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2020
leheküljed
6 p. : ill
konverentsi nimetus, aeg
2020 International Conference Mechatronic Systems and Materials (MSM), 2020
konverentsi toimumispaik
Bialystok, Poland
leitav
https://doi.org/10.1109/MSM49833.2020.9202393
märksõna
tehisõpe
filtrid
mikrolained
võtmesõna
Microwave Cavity Filter Tuning
LLE
DDQN
RL
Computer-Aided Tuning
Q-Learning
Deep Learning (DL)
ISBN
978-1-7281-6956-9
märkused
Bibliogr.: 29 ref
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
3.1
TTÜ struktuuriüksus
elektroenergeetika ja mehhatroonika instituut
keel
inglise
Sekhri, E., Kapoor, R., Tamre, M. Double deep Q-Learning approach for tuning microwave cavity filters using locally linear embedding technique // 2020 International Conference Mechatronic Systems and Materials (MSM). : IEEE, 2020. 6 p. : ill. https://doi.org/10.1109/MSM49833.2020.9202393