Hierarchical defect-oriented fault simulation for digital circuits
autor
Blyzniuk, M.
Cibakova, Tatiana
Gramatova, Elena
Kuzmicz, W.
Lobur, M.
Pleskacz, Witold A.
Raik, Jaan
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
M.Blyzniuk, T.Cibakova, E.Gramatova, W.Kuzmicz, M.Lobur, W.Pleskacz, J.Raik, R.Ubar
allikas
IEEE European Test Workshop : 23-26 May 2000, Cascais, Portugal : ETW 2000 : proceedings
ilmumiskoht
Los Alamitos, CA
kirjastus/väljaandja
IEEE Computer Society
ilmumisaasta
2000
leheküljed
p. 69-74 : ill
ISBN
0-7695-0701-8
märkused
Bibliogr.: 13 ref