Probabilistic analysis of CMOS physical defects in VLSI circuits for test coverage improvement
autor
Blyzniuk, M.
Kazymyra, I.
Kuzmicz, W.
Pleskacz, Witold A.
Raik, Jaan
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
M.Blyzniuk, I.Kazymyra, W.Kuzmicz, W.A.Pleskacz, J.Raik, R.Ubar
allikas
Microelectronics reliability
ajakirja aastakäik number kuu
Vol. 41
ilmumisaasta
2001
leheküljed
p. 2023-2040 : ill
leitav
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0026271401000920
märksõna
tõenäosus
analüüs
VLSI-ahelad
defektid
ISSN
0026-2714
märkused
Bibliogr.: 31 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise