Off-line testing of crosstalk induced glitch faults in NoC Interconnects
autor
Bengtsson, Tomas
Kumar, Shashi
Jutman, Artur
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
Tomas Bengtsson, Shashi Kumar, Raimund Ubar, Artur Jutman
allikas
Proceedings [of] 24th IEEE Norchip Conference : Linköping, Sweden, 20-21 November 2006
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2006
leheküljed
p. 221-225 : ill
konverentsi nimetus, aeg
24th IEEE Norchip Conference, 20-21 November, 2006
konverentsi toimumispaik
Linköping, Sweden
leitav
http://dx.doi.org/10.1109/NORCHP.2006.329215
märksõna
integraallülitused
rikked
testimine
ISBN
1-4244-0772-9
märkused
Bibliogr.: 9 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutitehnika instituut
keel
inglise