Functional built-in self-test for processor cores in SoC
autor
Ubar, Raimund-Johannes
Indus, Viljar
Kalmend, Oliver
Evartson, Teet
Orasson, Elmet
vastutusandmed
Raimund Ubar, Viljar Indus, Oliver Kalmend, Teet Evartson, Elmet Orasson
allikas
30th IEEE NORCHIP Conference : Copenhagen, Denmark, November 12-14, 2012
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
IEEE Computer Society
ilmumisaasta
2012
leheküljed
p. 1-4 : ill
konverentsi nimetus, aeg
30th IEEE NORCHIP Conference, November 12-14, 2012
konverentsi toimumispaik
Copenhagen, Denmark
leitav
https://ieeexplore.ieee.org/document/6403148
märksõna
protsessorid
testid
testimine
ISBN
978-1-4673-2223-2
märkused
Bibliogr.: 13 ref
keel
inglise