SiC-diodes forward surge current failure mechanisms : experiment and simulation
autor
vastutusandmed
A.Udal and E.Velmre
allikas
kirjastus/väljaandja
ajakirja aastakäik number kuu
Vol. 37, 10/11
ilmumisaasta
leheküljed
p. 1671-1674
ISSN
0026-2714
Open Access
Open Access
keel
inglise
märksõna
TTÜ struktuuriüksus
Udal, A., Velmre, E. SiC-diodes forward surge current failure mechanisms : experiment and simulation // Microelectronics reliability (1997) Vol. 37, 10/11, p. 1671-1674.