Времена жизни неосновных носителей заряда в полупроводниках с учетом Оже-процессов на локализованных состояниях

autor
Opotski, Aleksei
vastutusandmed
А. Опоцкий
allikas
Машинное проектирование электронных устройств и систем
ilmumiskoht
Таллин
kirjastus/väljaandja
Таллинский политехнический институт
ilmumisaasta
1988
leheküljed
с. 134-148 : ил
seeria-sari
Tallinna Polütehnilise Instituudi toimetised = Труды Таллинского политехнического института = Transactions of Tallinn Technical University ; 674
Электротехника и автоматика ; 35
seeria variantpealkiri
TPI Toimetised ; 674
Труды ТПИ ; 674
leitav
https://www.ester.ee/record=b1256708*est
https://digikogu.taltech.ee/et/Item/2e6337b1-2222-4e66-98fb-89178f835390
märksõna
Auger' spektroskoopia
pooljuhid
TTÜ märksõna
Tallinna Tehnikaülikooli toimetised
ISSN
0136-3549
3134-3823
märkused
Библиогр. : 7 назв
Abstract: Lifetime of the minority charge carriers in semiconductors with calculation of the Auger-processes on localized states
Kokkuvõte: Vähemus-laengukandjate eluiga pooljuhis Auger`-protseesside arvestamisega lokaalsetes olekutes
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
3.2
TTÜ struktuuriüksus
teadusliku uurimise sektor
keel
vene