European Test Symposium : ETS 2005 : 22-25 May 2005, Tallinn, Estonia : proceedings
autor
Cantarella, JD
vastutusandmed
[editorial production by JD Cantarella]
ilmumiskoht
Los Alamitos (Calif.)
kirjastus/väljaandja
IEEE Computer Society
ilmumisaasta
2005
leheküljed
xiv, 230 p. : ill
leitav
https://www.ester.ee/record=b2300865*est
märksõna
mikroelektroonika
elektronlülitused
integraallülitused
testimine
vormimärksõna
konverentsikogumikud
tema kohta
Ubar, Raimund-Johannes, 1941-
Raik, Jaan, 1972-
ISBN
0-7695-2341-2
märkused
Sisaldab TTÜ õppejõudude ettekannete kokkuvõtteid ja lk. ix organiseerimiskomitee liikmete portreed, TTÜst R.Ubar ja J.Raik
Teavikus puudub ilmumisaasta
keel
inglise