Optimization of the store-and-generate based built-in self-test
autor
Ubar, Raimund-Johannes
Jervan, Gert
Kruus, Helena
Orasson, Elmet
Aleksejev, Igor
vastutusandmed
R.Ubar, G.Jervan, H.Kruus, E.Orasson, I.Aleksejev
allikas
BEC 2006 : 2006 International Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 2-4, 2006, Tallinn, Estonia : proceedings of the 10th Biennial Baltic Electronics Conference
ilmumiskoht
[Tallinn]
kirjastus/väljaandja
Tallinn University of Technology
ilmumisaasta
2006
leheküljed
p. 199-202 : ill
konverentsi nimetus, aeg
BEC 2006 : 2006 International Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 2-4, 2006
konverentsi toimumispaik
Tallinn, Estonia
märksõna
integraallülitused
testimine
optimeerimine
ISBN
1-4244-0414-2
märkused
Bibliogr.: 17 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutitehnika instituut
keel
inglise