prindi

Mission profile resolution impacts on the thermal stress and reliability of power devices in PV inverters

autor
Sangwongwanich, Ariya
Zhou, D.
Liivik, Elizaveta
Blaabjerg, Frede
vastutusandmed
A. Sangwongwanich, D. Zhou, E. Liivik, F. Blaabjerg
allikas
Microelectronics reliability
ajakirja aastakäik number kuu
vol. 88–90
ilmumisaasta
2018
leheküljed
p. 1003-1007
leitav
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2018.06.094
märksõna
pooljuhtmaterjalid
temperatuuri toime
energiatõhusus
digitaalsignaalid
jõuelektroonika
päikeseelemendid
võtmesõna
mission profile
power devices
thermal stress
solar irradiance
reliability prediction
sampling rate
power electronics
photovoltaic systems
ISSN
0026-2714
märkused
Bibliogr.: 18 ref
TTÜ struktuuriüksus
elektroenergeetika ja mehhatroonika instituut
keel
inglise
Sangwongwanich, A., Zhou, D., Liivik, E., Blaabjerg, F. Mission profile resolution impacts on the thermal stress and reliability of power devices in PV inverters // Microelectronics reliability (2018) vol. 88–90, p. 1003-1007. https://doi.org/10.1016/j.microrel.2018.06.094