prindi

Application specific true critical paths identification in sequential circuits

autor
Jürimägi, Lembit
Ubar, Raimund-Johannes
Jenihhin, Maksim
Raik, Jaan
Devadze, Sergei
Oyeniran, Adeboye Stephen
vastutusandmed
Lembit Jürimägi, Raimund Ubar, Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Sergei Devadze, Adeboye Stephen Oyeniran
allikas
2019 IEEE 25th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS 2019) : 1-3 July 2019, Greece
ilmumiskoht
Piscataway
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2019
leheküljed
p. 299-304 : ill
konverentsi nimetus, aeg
25th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design, July 1-3, 2019
konverentsi toimumispaik
Rhodes Island, Greece
leitav
https://doi.org/10.1109/IOLTS.2019.8854442
märksõna
integraallülitused
digitaalsignaalid
tõrked
järjendanalüüs
võtmesõna
timing-critical path
hierarchical two-level analysis
BDDs
ISSN
1942-9401
1942-9398
ISBN
978-1-7281-2490-2
978-1-7281-2491-9
märkused
Bibliogr.: 25 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise
Uurimisrühm
Töökindla arvutusriistvara keskus (TARK)
Usaldusväärsete arvutisüsteemide keskus
Jürimägi, L., Ubar, R., Jenihhin, M., Raik, J., Devadze, S., Oyeniran, A. Application specific true critical paths identification in sequential circuits // 2019 IEEE 25th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS 2019) : 1-3 July 2019, Greece. Piscataway : IEEE, 2019. p. 299-304 : ill. https://doi.org/10.1109/IOLTS.2019.8854442