prindi

IEEE European Test Symposium (ETS)

autor
Eggersgluss, Stephan
Hamdioui, Said
Jutman, Artur
Michael, Maria K.
Raik, Jaan
vastutusandmed
Stephan Eggersglüß, Said Hamdioui, Artur Jutman, Maria K. Michael, Jaan Raik, Matteo Sonza Reorda, Mehdi Tahoori, Elena-IoanaVatajelu
allikas
2019 IEEE International Test Conference (ITC)
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2019
leheküljed
4 p
konverentsi nimetus, aeg
2019 IEEE International Test Conference (ITC)
konverentsi toimumispaik
Washington, DC, USA
leitav
https://doi.org/10.1109/ITC44170.2019.9000148
märksõna
elektroonika
testimine
töökindlus
konverentsid
Scopus
Conference proceeding at Scopus
Article at Scopus
WOS
Article at WOS
kvartiil
Q1
kategooria (üld)
Matemaatika
Tehnika
kategooria (alam)
Matemaatika. Rakendusmatemaatika
Tehnika. Elektri- ja elektroonikatehnika
asutuse kohta
European Test Symposium (ETS)
kohamärksõna
Euroopa
ISSN
2378-2250
1089-3539
ISBN
978-1-7281-4823-6
Open Access
Open Access
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
3.1
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise
Uurimisrühm
Töökindla arvutusriistvara keskus (TARK)
Usaldusväärsete arvutisüsteemide keskus
Eggersgluss, S., Hamdioui, S., Jutman, A., Michael, M.K., Raik, J. et al. IEEE European Test Symposium (ETS) // 2019 IEEE International Test Conference (ITC). [S.l.] : IEEE, 2019. 4 p. https://doi.org/10.1109/ITC44170.2019.9000148