prindi

Machine learning clustering techniques for selective mitigation of critical design features

autor
Lange, Thomas
Balakrishnan, Aneesh
Glorieux, Maximilien
Alexandrescu, Dan
Sterpone, Luca
vastutusandmed
Thomas Lange, Aneesh Balakrishnan, Maximilien Glorieux, Dan Alexandrescu, Luca Sterpone
allikas
Proceedings : 2020 26th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design : IOLTS 2020, Napoli, Italy, July 13-16, 2020 : virtual edition
ilmumiskoht
Danvers
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2020
leheküljed
7 p. : ill
konverentsi nimetus, aeg
2020 IEEE 26th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), July 13-16, 2020
konverentsi toimumispaik
Napoli, Italy
leitav
https://doi.org/10.1109/IOLTS50870.2020.9159751
märksõna
tehisõpe
programmeerimine
algoritmid
rikked
simulatsioon
riistvara
võtmesõna
terms-transient faults
single-event upsets
selective mitigation
selective hardening
soft error protection
ISBN
9781728181875
märkused
Bibliogr.: 12 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise
Uurimisrühm
Töökindla arvutusriistvara keskus (TARK)
Lange, T., Balakrishnan, A., Glorieux, M. et al. Machine learning clustering techniques for selective mitigation of critical design features // Proceedings : 2020 26th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design : IOLTS 2020, Napoli, Italy, July 13-16, 2020 : virtual edition. Danvers : IEEE, 2020. 7 p. : ill. https://doi.org/10.1109/IOLTS50870.2020.9159751