prindi

Representing gate-level SET faults by multiple SEU faults on RT-level

autor
Bagbaba, Ahmet Cagri
Jenihhin, Maksim
Ubar, Raimund-Johannes
Sauer, Christian
vastutusandmed
Ahmet Cagri Bagbaba, Maksim Jenihhin, Raimund Ubar, Christian Sauer
allikas
2020 IEEE 26th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 13-15 July 2020 : proceedings
ilmumiskoht
Danvers
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2020
leheküljed
art. 19889351, 6 p. : ill
konverentsi nimetus, aeg
IEEE 26th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 13-15 July 2020
konverentsi toimumispaik
Napoli, Italy
leitav
https://doi.org/10.1109/IOLTS50870.2020.9159715
märksõna
vead
veakindlus
tarkvara
võtmesõna
SET
SEU
multiple faults
functional safety
hardware security
fault injection
ISBN
9781728181875
märkused
Bibliogr.: 20 ref
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
3.1
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise
Uurimisrühm
Töökindla arvutusriistvara keskus (TARK)
Usaldusväärsete arvutisüsteemide keskus
Bagbaba, A.C., Jenihhin, M., Ubar, R., Sauer, C. Representing gate-level SET faults by multiple SEU faults on RT-level // 2020 IEEE 26th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 13-15 July 2020 : proceedings. Danvers : IEEE, 2020. art. 19889351, 6 p. : ill. https://doi.org/10.1109/IOLTS50870.2020.9159715