Data-driven cross-layer fault management architecture for sensor networks
                                            vastutusandmed
                                    
                                    
Lauri Vihman, Maarja Kruusmaa, Jaan Raik
                                                    
                                            
                                            allikas
                                    
                                    
16th European Dependable Computing Conference : EDCC 2020 : Virtual Conference, Munich, Germany, 7-10 September 2020 : proceedings
                                                    
                                            
                                            ilmumiskoht
                                    
                                    
Danvers
                                                    
                                            
                                            kirjastus/väljaandja
                                    
                                    
                                
                                            ilmumisaasta
                                    
                                    
                                
                                            leheküljed
                                    
                                    
art. 20094188, p. 33-40
                                                    
                                            
                                            konverentsi nimetus, aeg
                                    
                                    
16th European Dependable Computing Conference : EDCC 2020 : Virtual Conference, 7-10 September 2020
                                                    
                                            
                                            konverentsi toimumispaik
                                    
                                    
Munich, Germany
                                                    
                                            
                                            ISSN
                                    
                                    
2641-810X
                                                    
                                            
                                            ISBN
                                    
                                    
978-1-7281-8936-9
                                                    
                                            
                                            märkused
                                    
                                    
Bibliogr.: 27 ref
                                                    
                                            
                                            teaduspublikatsioon
                                    
                                    
teaduspublikatsioon
                                                    
                                            
                                            TTÜ struktuuriüksus
                                    
                                    
                                
                                            keel
                                    
                                    
inglise
                                                    
                                            
                                            võtmesõna
                                    
                                    
                                            klassifikaator
                                    
                                    
                                
                                    Vihman, L., Kruusmaa, M., Raik, J. Data-driven cross-layer fault management architecture for sensor networks // 16th European Dependable Computing Conference : EDCC 2020 : Virtual Conference, Munich, Germany, 7-10 September 2020 : proceedings. Danvers : IEEE, 2020. art. 20094188, p. 33-40.