prindi

On-chip sensors data collection and analysis for SoC health management

autor
Shibin, Konstantin
Jenihhin, Maksim
Jutman, Artur
Devadze, Sergei
Tsertov, Anton
vastutusandmed
Konstantin Shibin, Maksim Jenihhin, Artur Jutman, Sergei Devadze, Anton Tsertov
allikas
2023 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2023
leheküljed
6 p
konverentsi nimetus, aeg
36th IEEE InternationalSymposium on Defect andFault Tolerancein VLSIandNanotechnology Systems (DFT), 3-5 October 2023
konverentsi toimumispaik
Juan-les-Pins, France
leitav
https://doi.org/10.1109/DFT59622.2023.10313562
märksõna
kiipvõrgud
rikked
veakindlus
algoritmid
võtmesõna
SOC
modern system-on-chips (SoCs)
multi-processor system-on-chips (MPSoCs)
on-chip sensor
health management
fault management
health map
self-awareness
ISSN
2765-933X
ISBN
979-8-3503-1500-4
märkused
Bibliogr.: 15 ref
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
1.1
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise
Shibin, K., Jenihhin, M., Jutman, A., Devadze, S., Tsertov, A. On-chip sensors data collection and analysis for SoC health management // 2023 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT). : IEEE, 2023. 6 p. https://doi.org/10.1109/DFT59622.2023.10313562