ML-based online design error localization for RISC-V implementations
vastutusandmed
Hardi Selg, Maksim Jenihhin, Peeter Ellervee, Jaan Raik
allikas
2023 IEEE 29th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS) : IOLTS 2023 : July 3rd-5th, 2023, Platanias, Chania (Crete), Greece : proceedings
ilmumiskoht
Piscataway, New Jersey
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
7 p.
konverentsi nimetus, aeg
29th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design, IOLTS 2023, 3-5 July 2023
konverentsi toimumispaik
Chania Crete, Greece
ISBN
979-835034135-5
märkused
Bibliogr.: 28 ref
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
võtmesõna
klassifikaator
Uurimisrühm
Selg, H., Jenihhin, M., Ellervee, P., Raik, J. ML-based online design error localization for RISC-V implementations // 2023 IEEE 29th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS) : IOLTS 2023 : July 3rd-5th, 2023, Platanias, Chania (Crete), Greece : proceedings. Piscataway, New Jersey : IEEE, 2023. 7 p..