Wideband frequency diagnosis for high-sensitivity turn-insulation degradation estimation in inverter-fed machines
autor
vastutusandmed
Muhammad Usman Sardar, Toomas Vaimann, Lauri Kütt, Bilal Asad, Ants Kallaste, Hadi Ashraf Raja
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
7 p
konverentsi nimetus, aeg
15th International 2025 IEEE Symposium on Diagnostics for Electrical Machines,Power Electronics and Drives (SDEMPED), 24-27 August 2025
konverentsi toimumispaik
Dallas, Texas, USA
ISSN
2690-1188
ISBN
979-8-3503-8821-3
979-835038819-0
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
TTÜ struktuuriüksus
keel
Inglise
võtmesõna
Scopus
klassifikaator
Sardar, M. U., Vaimann, T., Kütt, L., Asad, B., Kallaste, A., Raja, H. A. Wideband frequency diagnosis for high-sensitivity turn-insulation degradation estimation in inverter-fed machines // 2025 IEEE Symposium on Diagnostics for Electric Machines, Power Electronics and Drives (SDEMPED) : proceedings. : IEEE, 2025. 7 p.