täiskirje prindi

Defect studies in Cu2ZnSnSe4 and Cu2ZnSn(Se0.75S0.25)4 by admittance and photoluminescence spectroscopy

autor
vastutusandmed
E. Kask, M. Grossberg, R. Josepson, P. Salu, K. Timmo, J. Krustok
allikas
kirjastus/väljaandja
ajakirja aastakäik number kuu
Vol. 16, 3
ilmumisaasta
leheküljed
p. 992-996 : ill
leitav
ISSN
1369-8001
märkused
Bibliogr.: 22 ref
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
keel
inglise
märksõna
võtmesõna
Cu2ZnSnSe4
Cu2ZnSn(Se0.75S0.25)4
admittance spectroscopy
photoluminescence spectroscopy
defects
Kask, E., Grossberg, M., Josepson, R., Salu, P., Timmo, K., Krustok, J. Defect studies in Cu2ZnSnSe4 and Cu2ZnSn(Se0.75S0.25)4 by admittance and photoluminescence spectroscopy // Materials science in semiconductor processing (2013) Vol. 16, 3, p. 992-996 : ill. https://doi.org/10.1016/j.mssp.2013.02.009