Otsing - TalTech teadusportaal

Albanese, Vincent (autor)

—

—

Lisa tingimus Lihtotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

Salvesta PDF fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel kogumikus

Latest trends in hardware security and privacyDi Natale, Giorgio; Regazzoni, Francesco; Albanese, Vincent; Lhermet, Frank; Loisel, Yann; Sensaoui, Abderrahmane; Pagliarini, Samuel Nascimento33rd IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) : ESA-ESRIN, Italy (On-line Virtual Event),October 19–21, 20202020 / 4 p. : ill https://doi.org/10.1109/DFT50435.2020.9250816

artikkel kogumikus

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1