Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
embedded instruments (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
4
Vaata veel..
(2/33)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(4)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
BASTION : board and SoC test instrumentation for ageing and no failure found
Jutman, Artur
;
Lotz, Christophe
;
Larsson, Erik
;
Sonza Reorda, Matteo
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
Proceedings of the 2017 Design, Automation & Test in Europe (DATE) : 27-31 March 2017, Swisstech, Lausanne, Switzerland
2017
/
p. 115-120 : ill
https://doi.org/10.23919/DATE.2017.7926968
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
Embedded instrumentation toolbox for screening marginal defects and outliers for production
Odintsov, Sergei
;
Jutman, Artur
;
Devadze, Sergei
;
Aleksejev, Igor
IEEE AUTOTESTCON 2017 : Schaumburg, USA, Sept 11-14, 2017 : proceedings
2017
/
p. 336-334 : ill
https://doi.org/10.1109/AUTEST.2017.8080516
artikkel kogumikus
3
artikkel ajakirjas
Health management for self-aware SoCs based on IEEE 1687 infrastructure
Shibin, Konstantin
;
Devadze, Sergei
;
Jutman, Artur
;
Grabmann, Martin
;
Pricken, Robin
IEEE Design & Test
2017
/
p. 27-35 : ill
https://doi.org/10.1109/MDAT.2017.2750902
artikkel ajakirjas
4
artikkel ajakirjas
Holistic IJTAG-based external and internal fault monitoring in UAVs
Ahmed, Foisal
;
Jenihhin, Maksim
arXiv.org
2023
/
6 p. : ill
https://doi.org/10.48550/arXiv.2303.01816
artikkel ajakirjas
Kirjeid leitud 4, kuvan
1 - 4
võtmesõna
32
1.
embedded instruments
2.
coordination instruments
3.
debt instruments
4.
decision support instruments
5.
financial instruments
6.
innovative financial instruments
7.
instruments
8.
interchangeable virtual instruments
9.
musical instruments
10.
optics/refraction/instruments
11.
organizational learning measurement instruments
12.
policy instruments
13.
spread and development of new policy instruments (environmental taxes and charges system)
14.
types of measuring instruments
15.
dependable embedded systems
16.
digital embedded work
17.
embedded control
18.
embedded deep learning
19.
embedded devices
20.
embedded electronics
21.
Embedded hardware
22.
embedded instrumentation
23.
embedded networks/NoC
24.
embedded platform
25.
embedded sensor
26.
embedded sensors
27.
embedded software
28.
embedded system
29.
embedded systems
30.
embedded test
31.
FPGA-Embedded Instrument
32.
laminate embedded printed circuit board
märksõna
1
1.
Laser Diagnostic Instruments
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT