Otsing - TalTech teadusportaal

microscopic property (võtmesõna)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

Visualization and analysis of three-way data using accumulated concept graphsIchino, Manabu; Umbleja, Kadri; Yaguchi, HiroyukiAppliedMath2024 / p. 1162 - 1180 https://doi.org/10.3390/appliedmath4030062 Journal metrics at Scopus Article at Scopus Journal metrics at WOS Article at WOS

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1