Otsing - TalTech teadusportaal

kuva

reasta

1

artikkel kogumikus

IEEE 1687 compliant ecosystem for embedded instrumentation access and in-field health monitoringTšertov, Anton; Jutman, Artur; Shibin, Konstantin; Devadze, SergeiIEEE AUTOTESTCON 2018 : National Harbor, September 17-20, 2018 : proceedings2018 / 9 p.: ill https://doi.org/10.1109/AUTEST.2018.8532559

artikkel kogumikus

2

artikkel kogumikus

IEEE P1687 IJTAG demonstrator on FPGAShibin, Konstantin; Aleksejev, Igor; Jutman, Artur; Devadze, SergeiDATE 2012 University Booth : Design Automation and Test in Europe : Dresden, Germany, March 12-16, 20122012 / 1 p. : ill https://www.academia.edu/22101517/IEEE_P1687_IJTAG_demonstrator_on_FPGA

artikkel kogumikus

3

artikkel kogumikus

Invited paper: System-Wide Fault Management based on IEEE P1687 IJTAGJutman, Artur; Devadze, Sergei; Aleksejev, Jevgeni6th International Workshop on Reconfigurable Communication-centric Systems-on-Chip (ReCoSoC) : 20-22 June 2011, Montpeillier, France2011 / [4] p.: ill https://ieeexplore.ieee.org/document/5981520

artikkel kogumikus

4

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

Optimization of boundary scan tests using FPGA-based efficient scan architecturesAleksejev, Igor; Devadze, Sergei; Jutman, Artur; Shibin, KonstantinJournal of electronic testing : theory and applications (JETTA)2016 / p. 245-255 : ill https://doi.org/10.1007/s10836-016-5588-y Journal metrics at Scopus Article at Scopus Journal metrics at WOS Article at WOS

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

5

artikkel kogumikus

Reliable health monitoring and fault management infrastructure based on embedded instrumentation and IEEE 1687Jutman, Artur; Shibin, Konstantin; Devadze, SergeiIEEE AUTOTESTCON 2016 : Anaheim, California, USA, September 12-15, 2016 : proceedings2016 / p. 240-249 : ill https://doi.org/10.1109/AUTEST.2016.7589605

artikkel kogumikus

6

artikkel kogumikus

System-wide fault management based on IEEE P1687 IJTAGShibin, Konstantin; Jutman, Artur; Devadze, SergeiInfo- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK kuuenda aastakonverentsi artiklite kogumik : 3.-5. oktoobril 2012, Laulasmaa2012 / p. 81-84 : ill

artikkel kogumikus

embedded instrumentation (võtmesõna)

teaviku laadid

võtmesõna 30