• Влияние технологического микроклимата на качество изделий микроэлектроникиKaipoksin, L.; Puusepp, Ü.; Rätsep, Ülo; Teevet, J.-T.Электронная промышленность : ЭП : научно-технический сборник1983 / с. 76-79 : илл https://www.ester.ee/record=b1802011*est
• Метод исследования технологического процесса производства интегральных микросхем, основанный на анализе кластеров состоянийRätsep, Ülo; Teevet, J.-T.Методы и средства обработки сигналов при наличии шумов1982 / с. 39-43 https://www.ester.ee/record=b1312255*est https://www.etera.ee/zoom/121735/view?page=1&p=separate&search=true&tool=search
• Определение структуры статистических закономерностей методом кластеризации наблюденийBudarin, Vladimir; Rätsep, Ülo; Teevet, J.-T.Электронная техника. Серия 9, Экономика и системы управления : научно-технический сборник1981 / с. 45-49 : илл https://www.ester.ee/record=b2160900*est
• Прогнозирование качества интегральных микросхем на основе кластеров состоянийBudarin, Vladimir; Rätsep, Ülo; Teevet, J.-T.Методы и средства цифровой обработки сигналов1984 / с. 111-115
• РадиотехникаHinrikus, Hiie; Arro, Ilmar; Ratassepp, Jaak; Germ, Eduard; Sullakatko, Toomas; Niinsalu, Udo; Lumberg, Tõnu; Heinrichsen, Vladimir; Roosi, Aarne; Loitme, Olev; Gerasimtšuk, Valeri; Meister, Ants; Kangur, Oleg; Müller, E.; Andra, Andres; Kruming, Boris; Pungar, Eda-Tiia; Vichmann, Frederik; Jermakov, A.A.; Budarin, Vladimir; Rätsep, Ülo; Teevet, J.-T.1984 https://www.ester.ee/record=b1302208*est