• Определение структуры статистических закономерностей методом кластеризации наблюденийBudarin, Vladimir; Rätsep, Ülo; Teevet, J.-T.Электронная техника. Серия 9, Экономика и системы управления : научно-технический сборник1981 / с. 45-49 : илл https://www.ester.ee/record=b2160900*est
• Прогнозирование качества интегральных микросхем на основе кластеров состоянийBudarin, Vladimir; Rätsep, Ülo; Teevet, J.-T.Методы и средства цифровой обработки сигналов1984 / с. 111-115 https://www.ester.ee/record=b1302208*est https://digikogu.taltech.ee/et/Item/e49ece5a-b726-4a2f-860f-748b84670a0c