Test configurations for diagnosing faulty links in NoC switches

vastutusandmed
Jaan Raik, Raimund Ubar, Vineeth Govind
ilmumiskoht
[Tallinn]
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
lk. 33-37 : ill
ISBN
978-9985-59-700-2
märkused
Bibliogr.: 17 nim
Raik, J., Ubar, R.-J., Govind, V. Test configurations for diagnosing faulty links in NoC switches // Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK teise aastakonverentsi artiklite kogumik : 11.-12. mai 2007, Viinistu kunstimuuseum. [Tallinn] : [Tallinna TehnikaĆ¼likool], 2007. lk. 33-37 : ill.