Modeling soft-error reliability under wariability

vastutusandmed
Aneesh Balakrishnan, Guilherme Cardoso Medeiros, Cemil Cem Gürsoy, Said Hamdioui, Maksim Jenihhin, Dan Alexandrescu
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
konverentsi nimetus, aeg
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 06-08 October 2021
konverentsi toimumispaik
Athens, Greece
ISSN
2765-933X
ISBN
978-1-6654-1609-2
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
3.1
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
Balakrishnan, A., Medeiros, G. C., Gürsoy, C. C., Hamdioui, S., Jenihhin, M., Alexandrescu, D. Modeling soft-error reliability under wariability // IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems. : IEEE, 2021.