Run-time reconfigurable instruments for advanced board-level testing

vastutusandmed
Igor Aleksejev, Artur Jutman, Sergei Devadze
allikas
IEEE instrumentation & measurement magazine
ajakirja aastakäik number kuu
vol. 20, 4
ilmumisaasta
leheküljed
p. 23-30 : ill
ISSN
1094-6969
märkused
Bibliogr.: 14 ref
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
Aleksejev, I., Jutman, A., Devadze, S. Run-time reconfigurable instruments for advanced board-level testing // IEEE instrumentation & measurement magazine (2017) vol. 20, 4, p. 23-30 : ill. https://doi.org/10.1109/MIM.2017.8006390