Shallow defect density determination in CuIn3Se5 thin film photoabsorber by impedance spectroscopy
autor
vastutusandmed
Kristjan Laes, Sergei Bereznev, A.Tverjanovich, E.N.Borisov, Tiit Varema, Olga Volobujeva, Andres Öpik
allikas
ajakirja aastakäik number kuu
517
ilmumisaasta
leheküljed
p. 2286-2290 : ill
ISSN
0040-6090
märkused
Bibliogr.: 12 ref
keel
inglise
Laes, K., Bereznev, S., Tverjanovich, A., Borisov, E.N., Varema, T., Volobujeva, O., Öpik, A.* Shallow defect density determination in CuIn3Se5 thin film photoabsorber by impedance spectroscopy // Thin solid films (2009) 517, p. 2286-2290 : ill.