Improved impedance analyzer with binary excitation signals

vastutusandmed
Olev Martens, Raul Land, Mart Min, Paul Annus, Marek Rist and Marko Reidla
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
p. 25-29 : ill
konverentsi nimetus, aeg
9th International Symposium on Intelligent Signal Processing (WISP 2015), 15-17 May, 2015
konverentsi toimumispaik
Siena, Italy
võtmesõna
DFT
aliases
binary
ISBN
978-1-4799-7252-4
märkused
Bibliogr.: 13 ref
keel
inglise
Märtens, O., Land, R., Min, M., Annus, P., Rist, M., Reidla, M. Improved impedance analyzer with binary excitation signals // 2015 IEEE 9th International Symposium on Intelligent Signal Processing (WISP 2015) : Siena, Italy, 15-17 May 2015 : [proceedings]. [S.l.] : IEEE, 2015. p. 25-29 : ill.