Implementation-independent test generation for a large class of faults in RISC processor modules

vastutusandmed
Maksim Jenihhin, Adeboye Stephen Oyeniran, Jaan Raik, Raimund Ubar
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
konverentsi nimetus, aeg
24th Euromicro Conference on Digital System Design (DSD), 01-03 September 2021
konverentsi toimumispaik
Palermo, Italy
võtmesõna
implementation-independent test generation
ISBN
978-1-6654-2703-6
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
3.1
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
Jenihhin, M., Oyeniran, A. S., Raik, J., Ubar, R. Implementation-independent test generation for a large class of faults in RISC processor modules // 24th Euromicro Conference on Digital System Design (DSD). : IEEE, 2021.