Correlation of the morphology and electrical conductivity in thin films of PEDT/PSS complex: an integrated meso-scale simulation study
autor
Kaevand, Toomas
Kalda, Jaan
Kukk, Vello
Öpik, Andres
Lille, Ülo
vastutusandmed
Toomas Kaevand, Jaan Kalda, Vello Kukk, Andres Öpik, Ülo Lille
allikas
Molecular simulation
ajakirja aastakäik number kuu
Vol. 37, 6
ilmumisaasta
2011
leheküljed
p. 495-502 : ill
leitav
https://www.tandfonline.com/doi/abs/10.1080/08927022.2011.554549
märksõna
õhukesed kiled
elektrijuhtivus
korrelatsioon (füüsika)
simulatsioon
morfoloogiline analüüs
võtmesõna
conjugated poymer
meso-scale simulation
percolation
random resistor network
ISSN
0892-7022
märkused
Bibliogr.: 24 ref
keel
inglise