Rejuvenation of NBTI-impacted processors using evolutionary generation of assembler programs

vastutusandmed
F. Pellerey, M. Jenihhin, G. Squillero, J. Raik, M. Sonza Reorda, V. Tihhomirov, R. Ubar
allikas
2016 IEEE 25th Asian Test Symposium : 21-24 November 2016, Hiroshima, Japan
ilmumiskoht
Los Alamitos
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
p. 304-309 : ill
konverentsi nimetus, aeg
25th Asian Test Symposium, 21-24 November, 2016
konverentsi toimumispaik
Hiroshima, Japan
ISSN
2377-5386
ISBN
978-1-5090-3808-4
märkused
Bibliogr.: 37 ref
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
Pellerey, F., Jenihhin, M., Squillero, G., Raik, J., Sonza Reorda, M., Tihhomirov, V., Ubar, R. Rejuvenation of NBTI-impacted processors using evolutionary generation of assembler programs // 2016 IEEE 25th Asian Test Symposium : 21-24 November 2016, Hiroshima, Japan. Los Alamitos : IEEE Computer Society, 2016. p. 304-309 : ill.